關(guān)注中，我也碰到這種情況，希望高人解答一下

1.      是否使用短接地測(cè)量,如使用長(zhǎng)接地測(cè)量也會(huì)發(fā)生此問(wèn)題.

2.      采樣電阻前是否有加低通濾波器,由一電容及電阻組成.

3.      受layout影響, 采樣電阻部份受干擾.

輸出有問(wèn)題？

請(qǐng)問(wèn)那個(gè)反向的尖峰是不是因?yàn)殡娮璧碾姼幸鸬?

我使用無(wú)感電阻也沒(méi)有什么作用。

如何解決了，加電容吸收，我試了一下，效果不怎么樣！

就是不用探頭那個(gè)線夾子來(lái)作為地線

要用探頭配的那個(gè)彈簧一樣的接地環(huán)套在探頭上來(lái)測(cè)量

你取掉探頭的鉤子就會(huì)看到探頭針下面有一圈金屬

用那里通過(guò)短線來(lái)接地

這樣的問(wèn)題一般就是測(cè)試方法誤差產(chǎn)生的

因?yàn)閷?duì)探頭來(lái)說(shuō)，標(biāo)準(zhǔn)的地是探頭上那一圈金屬，如果用探頭線夾來(lái)接地，那么線夾那一段線就會(huì)等效成為一個(gè)接收天線，或者是高頻產(chǎn)生的壓降，產(chǎn)生出來(lái)的東西等效成一個(gè)信號(hào)源并接在被測(cè)信號(hào)上

你用的是DIP元件? 那改成SMD的?

學(xué)習(xí)了，多謝分享經(jīng)驗(yàn)！