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做試驗時有沒有注意監視LED的電流、壓降及溫度,有機會的話應該監控一下,便于分析排除工作條件不穩定因素,對光衰原因進行分析.光衰原因在半導體原理上主要是熱老化產生了新的帶間能級,激發俄息躍遷,使復合躍遷效率降低.俄息復合產生的聲子會以熱的形式釋放,管子溫度比光衰前高.這與材料表面態、非參雜雜質能級有關系.工作溫度因素:大電流比小電流管子發熱嚴重,光衰應該更嚴重;工作電流因素:影響較大,試驗應該進行監控;芯片、熒光粉、封裝樹脂和支架因素不可控,燈具廠家只能根據經驗選擇.

816051203924387.pdf我們提供最簡接的方案:只要整流-濾波-  多個LED和模塊相串即可.但電壓只能220v需要了解請加我QQ:183275139

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