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主辦方好，本人申請(qǐng)?jiān)囉茫?amp;nbsp; 試用原因：1.在設(shè)計(jì)某產(chǎn)品的換向電路中因MOSFET耐壓?jiǎn)栴}，導(dǎo)致控制板合格率不高，欲采用耐壓高的SIC器件重新設(shè)計(jì) ； 試用規(guī)劃：1.采用SIC的DEMO板測(cè)試特定負(fù)載下板子的SIC器件的工作狀態(tài)，包括開(kāi)關(guān)速度、熱耗及穩(wěn)定性。2.對(duì)比SIC的DEMO板和MOSFET電路的試驗(yàn)數(shù)據(jù)；3.匯總試驗(yàn)結(jié)果書(shū)寫(xiě)實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 本人工作單位：北京華攝半導(dǎo)體科技有限公司